薄膜自動測厚儀是一種用于精確測量薄膜材料厚度的專業(yè)儀器，廣泛應(yīng)用于電子、包裝、醫(yī)療、汽車、建筑等多個行業(yè)。
薄膜自動測厚儀主要基于電磁學(xué)、超聲波和光學(xué)等技術(shù)原理來實(shí)現(xiàn)膜厚的精確測量，具體可分為接觸式和非接觸式兩大類：
接觸式：
機(jī)械接觸式：通過機(jī)械方式實(shí)現(xiàn)薄膜厚度測量，主要結(jié)構(gòu)包括感應(yīng)頭(壓力傳感器)、觸點(diǎn)系統(tǒng)、指示器等部分。當(dāng)感應(yīng)頭接觸到薄膜表面時，由于薄膜的彈性變形，會使感應(yīng)頭的壓力發(fā)生變化，從而使觸點(diǎn)系統(tǒng)的電路閉合或斷開。通過測量電路的開關(guān)時間和對應(yīng)的電壓信號，可以計(jì)算出薄膜的厚度。
非接觸式：
光學(xué)式：利用光學(xué)折射原理實(shí)現(xiàn)薄膜厚度測量，主要結(jié)構(gòu)包括光源、透鏡、反射鏡、光電探測器等部分。當(dāng)光線照射到薄膜表面上時，一部分光透過薄膜，另一部分被反射回來。光電探測器接收到反射光線后，將其轉(zhuǎn)換為電信號輸出給控制系統(tǒng)進(jìn)行處理。通過分析透射光和反射光的比例關(guān)系，可以計(jì)算出薄膜的厚度。
電磁式：通過檢測磁場或電場的變化來確定膜厚。當(dāng)膜層覆蓋在金屬基底上時，膜層的存在會改變周圍電磁場的分布，儀器通過精確測量這種變化來推算膜厚。這種原理適用于金屬基底上的非金屬涂層測量，如鋼鐵表面的油漆、塑料涂層等。
超聲波式：利用超聲波在不同介質(zhì)中的傳播速度和反射特性來測量膜厚。當(dāng)超聲波遇到不同介質(zhì)的界面時，會發(fā)生反射和折射，通過測量超聲波在膜層和基底中的傳播時間和反射強(qiáng)度，就可以計(jì)算出膜厚。這種技術(shù)適用于多種材料和復(fù)雜結(jié)構(gòu)的測量，包括金屬、塑料、玻璃及陶瓷等非金屬基底上的涂層。
更新時間：2025-10-24
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